電子異物分析質量FTIR異物研究，表面異物、斑點異物、霉變異物、SEM分析、EDS分析、FTIR分析、深圳電子異物檢測質量篩選分析試驗室、各領域專業工程師,自有實驗室,儀器設備齊全!異物分析 選擇異物檢測,檢測精度到ppb級別,售后技術支持有保障!
快速判斷異物或雜質的成分,分析產生原因,進行整改提升產品良率,消除生產隱患,保障生產的穩定性.異物分析，是專門分析產品上的微小嵌入異物或表面污染物、析出物進行之成分的技術。例如對表面嵌入異物、斑點、油狀物、噴霜等異常物質進行定性分析，
異物分析通常是指針對產品上的外來不明物質、表面污染、析出物等進行分析的檢測技術。通過分析異物的成分，找到異物的來源，從而找到改善的方法。
異物分析的方法目前主要有主要有紅外光譜法(FTIR)和掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)，這兩種方法是分別針對不同的異物的。
紅外光譜法
紅外光譜定性是根據紅外光譜官能團的吸收峰來確定物質的結構（主要是有機化合物）。紅外譜圖縱坐標表示吸光率（A）或透過率（T%），橫坐標表示波數（cm-1），通過不同的官能團在不同的波數段出峰以及峰形可以解析出物質的結構，從而得到化合物的種類。對于一些常見的化合物可以通過與譜庫中的譜圖進行匹配從而得到成分組成。對于異常情況的分析，通常采用的是顯微紅外法。由于顯微鏡的作用，相對于普通紅外法，顯微紅外具有樣品量少、無損、操作簡便等優點。
2. 掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)
掃描電鏡/能譜儀法(SEM/EDS)是通過掃描電鏡/能譜儀（SEM/EDS）對異物或異常部位掃描，得到元素種類及其含量。通過掃描電鏡（SEM）可以觀察樣品各種凹凸不平表面的細微結構形貌，同時從能譜儀可以得到元素的種類及含量。
結束
