微量污染物分析服務場景：
需要了解不明物質（粉體、顆粒等）是什么
產品表面出現斑點、異物、析出物等，需要尋找根源，解決問題
想了解產品純度，材質是什么
需要了解某些物質的成分組成、元素、離子等含量
研發實力不足，或研發進度較慢
微量污染物分析手段：
傅立葉變換顯微紅外光譜分析（FTIR）
紅外顯微鏡
顯微共焦拉曼光譜儀（Raman）
掃描電鏡及能譜分析（SEM/EDS）
X射線熒光光譜分析（XRF）
氣相色譜-質譜聯用儀（GC-MS）
裂解氣相色譜-質譜聯用（PGC-MS）
核磁共振分析（NMR）
俄歇電子能譜分析（AES）
X射線光電子能譜分析（XPS）
X射線衍射儀（XRD）
微量污染物檢測材質：
各類高分子材料
建筑助劑、紡織印染助劑
表面處理、電鍍添加劑
脫模劑、造紙助劑
表面活性劑
生物醫藥
清洗劑
XPS只是對物質表層進行分析（2-10 nm），且厚度不如EDX，也無法進行可視化操作。
XPS廣泛使用的原因主要有以下幾點：
?、趴蓽y除H、He以外的所有元素。檢測靈敏度約為0.1 at%。
?、苼唵螌屿`敏度；探測深度1～10nm，依賴材料和實驗參數。
?、强稍囟糠治?。
?、葍灝惖幕瘜W信息，化學位移和衛星結構與完整的標準化合物數據庫的聯合使用。
?、煞治鍪欠墙Y構破壞的；X射線束損傷通常微不足道。
?、试敿毜碾娮咏Y構和某些幾何信息。
XPS元素分析適合分析材料:
金屬、高分子等材料，薄膜，涂層等
XPS元素分析應用領域：
半導體技術、冶金、催化、礦物加工和晶體生長等
更多關于 金屬材料表面元素分析 成分分析 XPS測試，請咨詢啟威測實驗室。
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