EddyCus lab 2020A 用于電各向異性測量的單點測量裝置
用于測量導電層、涂層或基材的電各向異性。
非接觸式實時測量
導電薄膜的**測量
隱藏和封裝的導電層的表征
測量數據保存和輸出功能
EddyCus lab 2020A（各向異性）專門用于測量電各向異性和某些方向的片狀電阻。 這對于需要主要在某一方向上導電的功能薄膜來說尤其重要，同時要達到*高的光學透明度。這種新型設備配備了集成的片狀電阻各向異性傳感器。這些傳感器誘導定向電流進入機器和橫移方向。所測得的定向片材電阻被用來**測量電各向異性。這種非接觸式測試方法提供實時的結果，避免了耗時的破壞性測試。它被用于各行業的快速測試和系統質量保證。
片狀電阻（歐姆/平方米）
機器方向（歐姆/平方米）
橫移方向（歐姆/平方米）
組合板電阻（歐姆/平方米）
各向異性
TD/MD之比
各向異性(%)
典型材料
納米線（Ag, Pt, Au等）。
金屬網和網格（銅、金等）。
碳納米管
納米棒
測量技術
非接觸式渦流傳感器
基板：箔、玻璃、晶圓等。
基板面積：8英寸/204毫米x204毫米（三面開放）。
*大樣品厚度/傳感器間隙：3 / 5 / 10 / 25毫米（由*厚的樣品定義）。
片材阻力范圍：0.01 – 1,000 歐姆/平方米
在給定的片狀電阻范圍內的準確度：1 – 5%
各向異性范圍（TD/MD：0.33 – 3（根據要求更大）
裝置尺寸(W/H/D)：11.4” x 5.5” x 17.5” / 290 mm x 140 mm x 445 mm
重量：10公斤