X射線光電子能譜儀(XPS)+餓歇電子能譜儀(AES)
XPS利用光電效應的原理,測量X射線激發出的光電子能量和計數,對樣品表面幾個納米深度的范圍內進行半定量的成分和化學態分析;AES利用電子激發出的俄歇電子,對表面進行微區的成分和化學態分析。
測試范圍:
除H和He之外的所有元素
分析深度約5nm(AES約3nm)
檢測下限約0.1%
空間分辨率約30μm(AES約10nm)
服務項目:
各種固體表面的元素成分
化學價態
分子結構分析
深度剖析
深圳市啟威測標準技術服務有限公司提供的專業、高效、實惠的分析測試服務可以幫助客戶節省昂貴儀器費用,管控產品質量,分析產品配方及加速產品研發。
熱分析:DSC、TGA、DSC-TGA、TMA、DMA、旋轉流變儀
色譜分析:GPC、GC、 GC-MS、LC、LC-MS
光譜分析:ICP、XRF、FTIR、XRD
核磁分析NMR:1H、13C、29Si 、31P、17O譜
質譜分析: 高分辨率、低分辨率質譜
粒度分析:馬爾文激光粒度儀、 BET比表面積測試儀
電鏡分析:SEM、TEM、AFM;