高速串行LVDS信號質量測試，示波器測試lvds信號，lvds接口測試

高速串行LVDS信號質量測試，用于保證LVDS信號的正確傳輸

傳統的并行式數據通信，即多通道數據與時鐘分別傳送，往往因為傳輸路徑不一致而產生建立與保持時間違反。當速度增加時，準確控制傳輸時延顯得異常困難，因此如今新型的數據通信都已經是串行了。從并行到串行的改變除了數據速率的提高以外，對于測試方法也提出了新的要求。?LVDS采用多對高速差分信號傳輸數據，數據速率可以從幾百Mbps至幾個Gbps。為了保證高速信號的傳輸，LVDS使用差分線提供雙向數據收發，因此可以用比較小的信號擺幅提供更高的傳輸速率，而且差分線本身具有更好的抗干擾能力和更小的EMI，可以支持更長的電纜傳輸。由于LVDS的信號速率比較高，因此要對LVDS信號進行可靠的探測，對于示波器和探頭的要求也非常高，通常測量要求使用2.5G~4G帶寬的示波器。Agilent的DSO9000系列示波器由于具有很小的底噪聲和觸發抖動，平坦的帶內頻響特性和很小的Return?Loss，因此非常適合于進行象LVDS這樣的高速信號的測量。同時Agilent的DSO9000系列示波器還具有業內較深的存儲深度（通道的內存可以到1Gpts），適合用于復雜事件的記錄和分析。