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壽命老化測試-可靠性測試-第三方檢測機構

品牌: 中科檢測
資質: CMA/CNAS
服務內容: 充電樁檢測
單價: 1000.00元/件
發貨期限: 自買家付款之日起 天內發貨
所在地: 廣東 深圳
有效期至: 長期有效
發布時間: 2023-12-21 04:01
最后更新: 2023-12-21 04:01
瀏覽次數: 99
發布企業資料
詳細說明

  克萊斯勒、福特和通用汽車為建立一套通用的零件資質及質量系統標準而設立了汽車電子會(AEC),AEC是“AutomotiveElectronicsCouncil:汽車電子協會”的簡稱,是主要汽車制造商與美國的主要部件制造商匯聚一起成立的、以車載電子部件的可靠性以及認定標準的規格化為目的的團體,AEC建立了質量控制的標準。同時,由于符合AEC規范的零部件均可被上述三家車廠同時采用,促進了零部件制造商交換其產品特性數據的意愿,并推動了汽車零件通用性的實施,為汽車零部件市場的成長打下基礎。


  壽命老化測試


  芯片可靠性驗證(RA):


  芯片級預處理(PC)&MSL試驗、J-STD-020&JESD22-A113;


  高溫存儲試驗(HTSL),JESD22-A103;


  溫度循環試驗(TC),JESD22-A104;


  溫濕度試驗(TH/THB),JESD22-A101;


  高加速應力試驗(HTST/HAST),JESD22-A110;


  高溫老化壽命試驗(HTOL),JESD22-A108;


  高溫老化壽命試驗


  AEC-Q100對IC的可靠性測試可細分為加速環境應力可靠性、加速壽命模擬可靠性、封裝可靠性、晶圓制程可靠性、電學參數驗證、缺陷篩查、包裝完整性試驗,且需要根據器件所能承受的溫度等級選擇測試條件。需要注意的是,第三方難以立完成AEC-Q100的驗證,需要晶圓供應商、封測廠配合完成,這*加考驗對認證試驗的整體把控能力。中科檢測將根據客戶的要求,依據標準對客戶的IC進行評估,出具合理的認證方案,從而助力IC的可靠性認證



  芯片材料分析:


  高分辨TEM(形貌、膜厚測量、電子衍射、STEM、HAADF);


  SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測量、EBSD)


  Raman(Raman光譜)


  AFM(微觀表面形貌分析、臺階測量)



  以下供大家參考使用:


  AEC-Q100Rev-Gbase:集成電路的應力測試標準(不包含測試方法)


  AEC-邦線切應力測試


  AEC-人體模式靜電放電測試


  AEC-機械模式靜電放電測試


  AEC-集成電路閂鎖效應測試


  AEC-可寫可擦除的性記憶的耐久性、數據保持及工作壽命的測試


  AEC-熱電效應引起的寄生閘漏電流測試


  AEC-故障仿真和測試等級


  AEC-早期壽命失效率(ELFR)


  AEC-電分配的評估


  AEC-錫球剪切測試


  AEC-帶電器件模式的靜電放電測試


  AEC-系統靈敏功率設備的短路可靠性描述


  AEC-:分立半導體元件的應力測試標準(包含測試方法)


  AEC-:人體模式靜電放電測試


  AEC-:機械模式靜電放電測試


  AEC-:邦線切應力測試


  AEC-:同步性測試方法


  AEC-:帶電器件模式的靜電放電測試


  AEC-:12V系統靈敏功率設備的短路可靠性描述


  AEC-:半導體被動元件的應力測試標準(包含測試方法)


  AEC-:阻燃性能測試


  AEC-:人體模式靜電放電測試


  AEC-:斷裂強度測試


  AEC-:自恢復保險絲測量程序


  AEC-:PCB板彎曲/端子綁線應力測試


  AEC-:端子應力(貼片元件)/切應力測試


  AEC-:電壓浪涌測試


  AEC-Q100作用


  中科檢測,經過50余年的發展,現已成為一家全國化、綜合性的國有第三方計量檢測機構,專注于為客戶提供計量、檢測、認證以及技術咨詢與培訓等技術服務,在計量校準、可靠性與環境試驗、元器件篩選與失效分析檢測、車規元器件認證測試、電磁兼容檢測等多個領域的技術能力及業務規模處于國內水平。


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