BW-AH-5520
半導體高精度自動溫度實驗系統
BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統采用特殊的結構設計，保證待測元器件區域溫度高穩定度及均勻度。采用雙高精度 RTD 溫度傳感器進行精密控溫及過溫保護，并具有多重保護功能，可以對器件在不同溫度下的性能進行精密測量分析及篩選。
可針對以下封裝的半導體器件進行高精度自動溫度實驗測量。
產品特點：
1、獨創的圓形內腔軸對稱設計，循環氣流控制，保證待測器件區域溫度的高精密穩定度及均勻度。
2、適用于DIP, SMD等各種封裝的小型電子元件、分立器件、集成電路等精密在線高低溫測試。
3、精密步進電機驅動實現自動過程測試（Leaded驅動環）。
4、根據待測器件封裝形式及規格可自定義溫測圈的工位。
5、測試試驗箱測試腔體上蓋可以自動電動升降，方便取放溫測圈。
6、每批次器件測量同配置參數、同工位、同溫度測點、高精度測量器件的溫度特性，參數同比環比分析。配置RS-232接口及Ethernet接口，可實現遠程自動控制。
