M4型全譜直讀光譜儀采用標準的設計和制造工藝技術，全數字化及互聯網技術結合，運用高分辯率CMOS檢測器，精密設計的氬氣吹掃系統，使儀器具有較高的性能、較低的成本以及極具競爭力的價格。
應用領域：
鋼鐵行業、有色金屬、合金鑄造、機械加工、商檢質檢、材料研究
檢測基體：
多基體
主要技術參數：
| 光學系統:帕邢-龍格結構 | 探 測 器:多CMOS檢測器 |
| 光室結構:充氬循環方式 | 光源類型:可編程脈沖數字光源 |
| 波長范圍:165-580nm（可擴展） | 儀器尺寸:7 |
| 光柵焦距:300mm | 儀器重量:40Kg |
| 光柵刻線:3600條/mm |
技術特點：
M4應用于多基體的、高性能的全譜直讀光譜儀
01 優異的分析性能、非常緊湊的儀器結構
02 用于多種基體、多種材料的分析，分析范圍覆蓋了幾乎所有的重要元素，可以滿足絕大多數現代鑄造業的應用需求。
03 高亮度全息光柵具備3600條/mm刻線，使得分光系統具有高的分辨率。
04 氬氣吹掃光室配置了優化設計的低流速吹氬系統，既保證低的使用成本又保證紫外區的透過率。
05 應用高分辯率多CMOS讀出系統，較低的暗電流、較好的檢出限、較高的穩定性、較強的靈敏度。
06 全數字化的智能復合光源DDD技術，充分滿足不同基體、不同樣品以及不同元素的激發要求。
07 一體式開放火花臺，可以滿足各種不同樣品結構的分析。
08 配置多條工廠校正曲線及更多的材料分析方法和先進的解決方案。
09 可根據用戶的材料要求，延長標準曲線的測量上、下限。
精密設計的氬氣吹掃系統
光室密封性強，可保持內部氬氣長期純凈。
光室空間優化設計，降低氬氣消耗，有效節約產生成本。
低氬氣吹掃系統，確保光室UV波段測量環境。
光室充氬免除復雜的真空系統。
高分辯率CMOS檢測器實現全譜分析
譜線覆蓋了所有的重要元素，滿足所有基體和材料的分析。
高靈敏的紫外區檢測，對N的分析檢測更準確。
可有效選擇元素靈敏線，保證分析的準確度。
多峰擬合技術，有效消除譜線干擾，實現精準測量。
分析軟件功能強大
1)基于Windows系統的多國語言的CCD全譜圖形化分析軟件，方便實用；
2)全方位管理的控制整個測量過程及為用戶提供強大的數據處理能力和測試報告輸出能力；
3)儀器可配置多條工廠校正曲線及更多材質分析及先進解決方案；
4)軟件實現全譜檢測、智能扣干擾、扣暗電流、背景和噪聲的算法，提高儀器的分析能力；
5)完備的自動系統診斷功能；
6)完善的數據庫管理功能，可方便查詢、匯總數據；
7)智能校正算法，保證儀器穩定可靠；
8)完備的譜線信息和干擾扣除算法，保證儀器分析更為精準；
9)適應Windows操作系統。