DLIA工業缺陷微觀瑕疵檢測系統配套的AI光學篩選一體機，配置高清高速顯微成像系統，具備多組光源，適應多種產品外觀缺陷檢測；使用了動態聚焦與飛拍技術，能以極高速度進行采樣與分析，從而實現對大多數半導體、電子制造、精密制造產品的外觀瑕疵檢測；配合后臺的數據統計系統，能對檢測產品的不良信息進行存檔和統計分析，為制程優化提供依據。
| 單價： | 面議 |
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| 所在地： | 廣東 深圳 |
| 有效期至： | 長期有效 |
| 發布時間： | 2024-03-06 04:12 |
| 最后更新： | 2024-03-06 04:12 |
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DLIA工業缺陷微觀瑕疵檢測系統配套的AI光學篩選一體機，配置高清高速顯微成像系統，具備多組光源，適應多種產品外觀缺陷檢測；使用了動態聚焦與飛拍技術，能以極高速度進行采樣與分析，從而實現對大多數半導體、電子制造、精密制造產品的外觀瑕疵檢測；配合后臺的數據統計系統，能對檢測產品的不良信息進行存檔和統計分析，為制程優化提供依據。