PCIE接口性能測試
使用Sigtest軟件進行波形參數分析,并生產測試報告,判斷結果
嵌入封裝影響后,用示波器采集封裝影響后的波形文件(數據信號),直接采集時鐘信號,分別存儲成獨立的文件(一個時鐘信號文件,一個數據信號文件),未來提高存儲速度,建議存為.bin或.wfm等二進制格式的文件。然后,把文件導入到SigTest分析工具里進行后分析處理,如下圖所示。
數據類型(Data Type)選擇:Dual Port Differential。
輸入正確的采樣間隔(50GSa/s采樣率對應為20ps, 40GSa/s采樣率對應為25ps)。
選擇正確的模板文件:PCIE_3_8GB_DUAL_PORT_MULTI_CTLE_DFE.